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多功能高功率X光繞射儀 (XRD)

儀器名稱:D8 DISCOVER SSS 多功能高功率 X 光繞射儀  (D8 DISCOVER SSS Multi Function High Power X-ray Diffractometer) 

l購置年度:99年

l放置地點:工程一館237實驗室(E1-237 Lab)

l服務項目:

1.    塊材、粉末、液體與薄膜之相定性與定量分析。

2.    多晶薄膜低掠角繞射分析

l樣本準備需知:

1.      尺寸:試片最大面積可達直徑10.0cm,但不得低於1.0cm×1.0cm(試片越大越好),高度不得超過7mm。

2.      組成結構:需已知欲測之基材、薄膜之大約厚度、組成、密度、2θ繞射主峰角度等。

3.      不接受具揮發性與毒性之試樣。

l收費標準:

             校內外基本費(委託操作) $9,000 元/時段(3 小時)

l開放服務對象:校內、校外學術單位及產業界

l儀器負責老師及技術員聯絡方式:

             負責教授:顏怡文 教授 (02)2737-6659

            技術員:吳盈瑩 小姐(02)2733-3141#7413、#3685

l儀器介紹:

D8 DISCOVER SSS 多功能高功率X光繞射儀(Multi Function High Power X-Ray Diffractometer),適用分析金屬、陶瓷、半導體、生醫、高分子等材料。以高功率旋轉式陽極靶搭配超快速一維線偵測器(最大偵搜角度12°)、平行X光導出裝置、平行X光繞射配件、開放式尤拉環、毛細管載台,用來量測不規則樣品塊材、粉末及液態樣品之穿透及多晶薄膜的低掠角繞射分析,藉由材料的晶體結構資訊加以探討材料性質變化,為一即時且兼具非破壞性檢測之分析設備,提供一般繞射分析(晶相鑑定,結構解析)、高解析薄膜繞射分析(薄膜結構,組成及厚度)等各式材料研究之全方位分析服務

 

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